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分类中国书网 > 工业技术 > 仪器,仪表工业
精密测控与系统 6
精密测控与系统
作者:董永贵
出版社:清华大学
出版日期:2005-9-1
译者:
  ISBN:730211460
开本:16开   装帧:
原价: 38
三星会员:33.04 二星:33.75 一星:34.46 普通:35.53
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本书以系统的观点,阐述了现代精密仪器设计中的控制理论、测试技术和设计方法。本书内容新颖、实用性强。
本书共分9章: 导论、系统的数学模型、传感器与测试系统、信号调理、图像处理技术、微弱信号检测技术、数字控制系统、计算机测控系统、现场总线技术与基于Internet的远程测控系统。
本书可供高等工科院校测控技术与仪器、电子精密机械、机电一体化及光学仪器等专业的师生使用,也可供从事精密仪器与机械及微纳米机电系统的研究、设计、制造、使用和调修的工程技术人员学习和参考。

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1 导论
1.1 信号的形式
1.1.1 连续时间信号
1.1.2 离散时间信号
1.1.3 准数字信号
1.2 系统的性质与分类
1.2.1 即时系统与动力学系统
1.2.2 线性系统与非线性系统
1.2.3 定常系统与非定常系统
1.2.4 因果系统与非因果系统
1.2.5 单输入输出系统与多输入输出系统
1.3 线性定常系统
1.3.1 单位冲激信号
1.3.2 信号通过线性定常系统
1.4 系统模型的建立
1.4.1 系统建模的基本概念
1.4.2 用分析法建立物理模型
1.4.3 实验法与系统辨识
1.4.4 相似系统与机电等效
1.5 测控系统专业知识的学习与应用
1.5.1 测控系统的基本概念
1.5.2 文献资料的获取与利用
1.5.3 研究过程的记录及文章发表
习题
2 系统的数学模型
2.1 系统的时域模型
2.1.1 线性常系数微分方程
2.1.2 线性常系数差分方程
2.2 系统的频域模型
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